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電子元器件剪切強度測試怎么做?推拉力測試機方法詳解

 更新時間:2026-03-27 點擊量:267

 

近期科準測控接待了一位來自電子制造行業(yè)的客戶,他們主要電子元器件貼裝,目前想評估元器件焊接點的剪切強度。針對這個需求,科準測控小編今天就和大家分享一下,如何使用Beta-S100推拉力測試機來進行電子元器件剪切強度測試。同時,也會一起聊聊這項測試的工作原理、操作流程和關(guān)鍵參數(shù)設置,幫助大家在SMT工藝優(yōu)化、質(zhì)量管控和失效分析中更高效地找到依據(jù)。

img1 

、測試原理

電子元器件剪切強度測試基于靜態(tài)剪切力學原理,模擬元器件在實際使用中可能受到的側(cè)向推力。將待測元器件試樣固定于專用夾具中,通過Beta-S100推拉力測試機以設定速率沿平行于基板方向?qū)υ骷┘油屏Γ敝梁附咏缑姘l(fā)生失效。系統(tǒng)實時記錄整個過程中的力值變化,自動采集zuida推力值,并根據(jù)斷口形貌分析失效模式。

 

二、測試標準

JESD22B117A 焊球剪切測試標準

IPC/JEDEC9704 印制板應變測試指南

GB/T 4937.42012 半導體器件 機械和氣候試驗方法

IPCTM650 印制板組件測試方法

 

、測試設備

Beta-S100推拉力測試

img2 

 

四、       測試流程

步驟一:設備與試樣準備

將待測試樣置于顯微鏡下,檢查元器件焊接質(zhì)量,記錄焊點形貌、尺寸及位置。

根據(jù)元器件規(guī)格和預估推力值,選擇合適量程的傳感器(如本次測試使用5kg傳感器)。

確認傳感器已正確安裝并完成初始化。

調(diào)整顯微鏡焦距與放大倍數(shù),確保能夠清晰觀察元器件側(cè)面及焊點區(qū)域。

步驟二:試樣裝夾與對位

試樣平穩(wěn)放置于專用夾具中,鎖緊夾具螺絲,確保基板在測試過程中不會移動或晃動。

使用搖桿控制X、Y、Z軸,將推刀移動至元器件待測面的側(cè)后方。

調(diào)整推刀位置,確保推刀尖剛好接觸元器件側(cè)面,且推刀高度與焊接點位置匹配。

步驟三:剪切高度設置

根據(jù)元器件焊點厚度,將剪切高度設置為5微米(5μm)。

步驟四:測試參數(shù)設定

在軟件中點擊"編輯方法",設置以下關(guān)鍵參數(shù):

方法名稱:電子元器件剪切測試

傳感器型號:選擇已安裝的傳感器(如5kg)

測試類型:剪切測試(推力測試)

測試速度:500 μm/s(即0.5mm/s)

斷裂判斷:設置力值下降閾值(如力值下降50%判定為斷裂)

數(shù)據(jù)采集:開啟實時力值位移曲線記錄

影像錄制:開啟顯微鏡視頻錄制,同步記錄測試全過程

步驟五:測試執(zhí)行

點擊軟件中的"開始試驗"按鈕。

系統(tǒng)將自動完成設置的動作序列

步驟六:數(shù)據(jù)與失效分析

測試結(jié)束后,系統(tǒng)自動顯示zuida推力值,并將數(shù)據(jù)保存至"測試記錄"中。

整合推力數(shù)據(jù)、過程視頻、推力位移曲線圖譜及失效分析結(jié)果,導出完整測試報告。

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以上就是科準測控小編分享的關(guān)于電子元器件剪切強度測試的內(nèi)容希望對您有所幫助。如您還有電子元器件推力測試、SMT焊接強度評估或關(guān)于推拉力測試機的更多應用等方面的疑問或需求,歡迎隨時通過私信或留言與科準測控聯(lián)系。我們的技術(shù)團隊將為您提供專業(yè)的測試建議與定制化服務方案。