STM系列白光干涉儀可用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)別測(cè)量，以“面”的形式獲取表面3D形貌通過(guò)專(zhuān)用軟件對(duì)3D形貌進(jìn)行處理和分析，最高RMS重復(fù)性可達(dá)0.002nm。STM-1000搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，最高掃描速度400um/秒，3200Hz加業(yè)內(nèi)原創(chuàng)SST+GAT算法，可瞬間完成最高500萬(wàn)點(diǎn)云采集。白光干涉原理通過(guò)光干涉相位計(jì)量任意放大倍率下均可獲得1nm的檢測(cè)精度。
更新時(shí)間：2026-05-18
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品價(jià)格：面議
